熱釋光輻射劑量檢測系統

簡要描述：熱釋光輻射劑量檢測系統是一種利用熱釋光現象測量輻射劑量的系統。它主要包含一個由特定物質制成的晶體，這種晶體可以通過吸收輻射能量產生激發態電子。當這些電子回到基態時，會釋放出能量并發出光子，通過測量這些光子的數量，可以確定晶體受到的輻射劑量。

產品型號：FN-2000B
廠商性質：生產廠家
更新時間：2025-12-12
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品牌	其他品牌	執行質量標準	國標
產地	國產	加工定制	否

　　FN-2000B熱釋光輻射劑量檢測系統可以對經過X、γ、β、中子等射線輻照后的熱釋光探測器進行測量，給出讀出值、劑量值，具有自動校準、扣除本底、加溫參數設置和打印等功能。熱釋光劑量讀出器可連接計算機，通過熱釋光劑量讀出器應用軟件，進行數據管理、打印等。適合于從環境本底測量直至放射治療劑量，輻射探傷照射劑量控制，核事故劑量測量監測等。

　　性能特點：

　　•7寸觸摸屏，全中文彩色顯示，便于用戶操作、運行和維護；

　　•高壓部分為三種模式：自動、鎖定、固定；

　　•加熱盤可更換，便于不同形狀、規格的熱釋光探測器的測量；

　　•數據庫中支持按單位名稱、個人姓名、性別、劑量盒條碼、

　　測據日期、已測人員、未測人員等多種查詢功能；

　　•上電自動烘干功能，用于環境潮濕及使用頻率較低的儀器；

　　•可放置衰減濾光片，擴大劑量測量范圍。

　　•帶PC軟件、打印機接口、條碼掃描儀接口；單機存貯1000

　　條測量數據。

　　•支持掃碼錄入、表格導出、個人數據庫建檔。

主要性能指標

光測量系統		加熱系統
劑量測量范圍	LiF:Mg,Ti：10-5Gy ～ 1Gy LiF:Mg,Cu,P：10-7Gy ～ 10Gy LiF:Mg,Ti-M：0～100Gy	加熱溫度范圍	室溫～400℃
測量項目	Ｘ、γ、β、中子	加熱溫度重復性	≤1%
系統穩定性	≤0.2%	加熱溫度偏差	≤±2℃
測讀時間	40s(可定制)	加熱時間	0～500s
靈敏度重復性的變化系數	≤0.1%±0.05%/℃	加熱時間重復性	≤0.1%
抽屜漏光量	≤內部光源量的0.1%	加熱速率	1～40℃·s-1
本底值	≤300	使用條件
高壓	0～1500V	工作環境	室內
電源	AC 220 V±10%，50Hz	工作溫度	10～40℃